《規(guī)程》中規(guī)定耦合電容器的預(yù)防性試驗(yàn)項(xiàng)目有測(cè)量兩極間的絕緣電阻、測(cè)量電容值和介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ。實(shí)踐表明，由于耦合電容器的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，這些項(xiàng)目對(duì)檢出缺陷的有效性不高，它可以從下列幾方面分析。
（1）測(cè)量絕緣電阻對(duì)檢出絕緣缺陷或開焊效果不好。對(duì)于電容器元件的開焊或未焊，一般認(rèn)為可用兆歐表在測(cè)量絕緣電阻時(shí)是否有充電過程或放電時(shí)是否有放電聲作出判斷，但是，由于耦合電容器由100多個(gè)元件串聯(lián)組成，元件間的連接片間隙很小，兆歐表電壓又高，因此充放電過程均因間隙放電而不能反映出來。
對(duì)于電容元件受潮或局部缺陷的檢測(cè)，也由于在串聯(lián)電路中，只要有部分元件完好，就反映不出來。例如，某臺(tái)由106個(gè)電容元件串聯(lián)組成的耦合電容器嚴(yán)重受潮，微水量達(dá)52.45ppm，其絕緣電阻尚有750MΩ。浙江某電力發(fā)現(xiàn)一臺(tái)預(yù)防性試驗(yàn)結(jié)果為3500MΩ的耦合電容器五個(gè)月后就損壞了。
實(shí)測(cè)表明，測(cè)量下電極小套管對(duì)地的絕緣電阻檢出嚴(yán)重受潮缺陷是有效的。例如，測(cè)量上述電容器小瓷套對(duì)地的絕緣電阻為0MΩ。在總結(jié)各地試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上，《規(guī)程》將測(cè)量耦合電容器小套管對(duì)地絕緣電阻增列為試驗(yàn)項(xiàng)目。要求用1000V兆歐表測(cè)量，絕緣電阻一般不小于100MΩ。
（2）電容量測(cè)量值的偏差不超過額定值的-5%或+10%的規(guī)定，對(duì)檢出受潮、缺油的可能性不大。有的單位對(duì)發(fā)生事故的8臺(tái)和解體已發(fā)現(xiàn)缺陷的7臺(tái)耦合電容器的電容量測(cè)量表明，其電容量的變化均在合格的范圍內(nèi)；而個(gè)別元件的擊穿所占的比列也很小。所以應(yīng)用電容量偏差不超過額定值的-5%或+10%來檢出受潮或缺油的可能不大。
（3）測(cè)量介質(zhì)損耗因數(shù)也難于檢出絕緣缺陷。由于耦合電容器由100多個(gè)電容元件串聯(lián)組成，若其中僅有幾個(gè)元件絕緣不良，即使介質(zhì)損耗因數(shù)很大，它對(duì)總體的介質(zhì)損耗因數(shù)。由表中數(shù)據(jù)可見，盡管故障元件的介質(zhì)損耗因數(shù)很大，但總體介質(zhì)損耗因數(shù)仍然很小。
基于上述，在《規(guī)程》中，除增列測(cè)量小套管對(duì)地絕緣電阻外，還增加了耦合電容器的帶電測(cè)量（在運(yùn)行電壓下的設(shè)備，采用專用儀器，由人員參與進(jìn)行的測(cè)量）。帶電測(cè)量耦合電容器的電容值能夠判斷電力設(shè)備的絕緣狀況。一些單位開展這項(xiàng)工作取得良好的效果。
表2-8 介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)量值
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序號(hào)
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1
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2
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3
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4
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5
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6
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7
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8
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故障元件
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編號(hào)
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3
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23
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46
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53
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18
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4
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7
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12
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tgδ（%）
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11
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14.1
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13.3
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13.7
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10.9
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6.7
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8.6
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6.6
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Σtgδ(%)
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0.2
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0.4
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0.4
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0.4
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0.6
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0.3
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0.3
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0.3
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注 絕緣良好的電容元件的tgδ在0.1%~0.4%之間。
《規(guī)程》規(guī)定，在運(yùn)行電壓下，用電流表或電流變換器測(cè)量流過耦合電容器接地線上的工作電流，并同時(shí)記錄運(yùn)行電壓，然后計(jì)算其電容值。
判斷方法是：①計(jì)算得到的電容值的偏差超過額定值的-5%或+10%時(shí)，應(yīng)停電進(jìn)行預(yù)防性試驗(yàn)；②與上次測(cè)量值相比，電容值變化超過±10%時(shí)，應(yīng)停電進(jìn)行預(yù)防性試驗(yàn)；③電容值偏差超過出廠試驗(yàn)值的±5%時(shí)，應(yīng)增加帶電測(cè)量次數(shù)（在較短時(shí)間內(nèi)），若測(cè)量數(shù)據(jù)基本穩(wěn)定可以繼續(xù)運(yùn)行。
另外，現(xiàn)場(chǎng)經(jīng)驗(yàn)表明，色譜分析對(duì)發(fā)現(xiàn)早期故障也十分有效。 | 
