在《規(guī)程》中，除了規(guī)定電容值偏差不超過額定值的-5%~+10%以外，還規(guī)定電容值與出廠值之間的偏差，對(duì)高壓并聯(lián)電容器等和集合式電容器分別不應(yīng)小于出廠值的95%和96%；對(duì)耦合電容器等電容值不應(yīng)大于出廠值的102%（否則應(yīng)縮短試驗(yàn)周期）。其主要原因是控制運(yùn)行中元件電壓不超過規(guī)定值的1.1倍。
對(duì)電壓并聯(lián)電容器，它有不帶內(nèi)部熔絲和帶內(nèi)部熔絲的兩種。對(duì)不帶內(nèi)部熔絲的，在大多情況下，擊穿一個(gè)元件，電容量變化一般不超過+10%以上，電容器應(yīng)退出運(yùn)行。但對(duì)帶內(nèi)部熔絲的，元件損壞引起電容減小，要控制電容量允許變化值不超過元件電壓規(guī)定值Un/m(Un為電容器額定電壓，m為串聯(lián)元件數(shù))的1.1倍。例如，電容器元件為13并8串，當(dāng)電容量減小9.7%時(shí)，部分完好元件上電壓可能****升高21%。如果出廠試驗(yàn)電容偏差+5%，則運(yùn)行中電容偏差雖降至-5%，就可能有元件的運(yùn)行電壓超過1.1倍規(guī)定值了，此時(shí)電容器也應(yīng)退出運(yùn)行，所以有這條規(guī)定保證電容器的安全運(yùn)行有利。
對(duì)耦合電容器，也是由多個(gè)元件串聯(lián)而成，大多數(shù)單節(jié)耦合電容器的串聯(lián)元件數(shù)在100個(gè)左右，當(dāng)有一個(gè)元件擊穿時(shí)，電容值約增大1%，考慮到溫度和測(cè)試條件影響，電容值增大2%以上時(shí)，應(yīng)考慮有一個(gè)元件擊穿。此時(shí)，雖然電容器仍可以繼續(xù)運(yùn)行，但應(yīng)縮短預(yù)防性試驗(yàn)周期，查明原因，以保證安全運(yùn)行。對(duì)集合式電容器，規(guī)定沒想電容偏差不超過出廠值的-4%，也是從這個(gè)角度考慮的。
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